手持布氏硬度壓痕測量系統(tǒng)(iVision_HB)
顯微/維氏硬度測量系統(tǒng)(iVision_HV)
USB運(yùn)動(dòng)控制與驅(qū)動(dòng)板(iMotion_USCD)
二維整體電動(dòng)位移工作臺(tái)(iMotion_XYMS)
幾何尺寸測量軟件(iVision_PM)
齒形測量軟件(iVision_GM)
成分測量分析軟件(iVision_CA)
晶粒度測量分析軟件(iVision_GR)
圖像拼接與聚焦合成軟件(iVision_CP)
TCP/IP接口控制板(iControl_TCPGC)
點(diǎn)陣模式識(shí)別(Bitmap PatRec)
晶圓功能測試模式識(shí)別(WaferTest PatRec)
缺陷密度模式識(shí)別(Defect Density PatRec)
<< 返回主頁